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电子元器件声学扫描检查方法书籍详细信息
- ISBN：9787563566716
- 作者：暂无作者
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：2022-07
- 页数：暂无页数
- 价格：49.30
- 纸张：胶版纸
- 装帧：平装-胶订
- 开本：16开
- 语言：未知
- 丛书：暂无丛书
- TAG：暂无
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
内容简介：
本书定位于电子元器件声学扫描方法的入门和精通，既可作为零基础人员的入门指南，也可作为有一定基础的声扫试验人员进阶使用。试验原理部分和操作指南部分主要是入门内容，可用于新员工培训。应用案例部分和试验技巧部分是进阶提升内容，可用于已掌握声扫试验技术的人员进一步提高，快速提升其自身水平和间接经验。塑封器件部分可用于开阔视野，提升塑封器件声扫试验人员的认知水平。
书籍目录：
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作者介绍：
张魁，2010年毕业于北京航空航天大学，硕士，现任职于中国电子科技集团公司第十三研究所，高级工程师。从事元器件质量与可靠性研究工作，主持获得2019年河北省科技进步奖、2020年河北省三三三人才等称号，已授权或受理国家发明专利9项，发表SCI及EI期刊论文12篇，软件著作权2项，出版论著3本，受聘河北科技大学校外硕士生导师。
出版社信息：
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书籍摘录：
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原文赏析：
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其它内容：
书籍介绍
本书定位于电子元器件声学扫描方法的入门和精通，既可作为零基础人员的入门指南，也可作为有一定基础的声扫试验人员进阶使用。试验原理部分和操作指南部分主要是入门内容，可用于新员工培训。应用案例部分和试验技巧部分是进阶提升内容，可用于已掌握声扫试验技术的人员进一步提高，快速提升其自身水平和间接经验。塑封器件部分可用于开阔视野，提升塑封器件声扫试验人员的认知水平。
书籍真实打分
故事情节：5分
人物塑造：8分
主题深度：7分
文字风格：7分
语言运用：9分
文笔流畅：8分
思想传递：3分
知识深度：4分
知识广度：6分
实用性：8分
章节划分：4分
结构布局：3分
新颖与独特：9分
情感共鸣：7分
引人入胜：8分
现实相关：3分
沉浸感：7分
事实准确性：7分
文化贡献：6分
网站评分
书籍多样性：8分
书籍信息完全性：4分
网站更新速度：9分
使用便利性：5分
书籍清晰度：5分
书籍格式兼容性：4分
是否包含广告：6分
加载速度：8分
安全性：7分
稳定性：5分
搜索功能：5分
下载便捷性：8分
下载点评
- 图文清晰(306+)
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下载评价
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