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瞬时电离辐射效应书籍详细信息
- ISBN：9787030740441
- 作者：暂无作者
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：2023-06
- 页数：224
- 价格：160.20
- 纸张：暂无纸张
- 装帧：圆脊精装
- 开本：暂无开本
- 语言：未知
- 丛书：暂无丛书
- TAG：暂无
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
内容简介：
瞬时电离辐射效应是电子系统常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用，感生光电流，改变器件及电路的特性和功能，影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核爆炸辐射环境及其效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、样本空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用等内容。
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书籍真实打分
故事情节：5分
人物塑造：5分
主题深度：7分
文字风格：6分
语言运用：8分
文笔流畅：3分
思想传递：5分
知识深度：9分
知识广度：8分
实用性：4分
章节划分：4分
结构布局：3分
新颖与独特：3分
情感共鸣：7分
引人入胜：3分
现实相关：7分
沉浸感：9分
事实准确性：4分
文化贡献：3分
网站评分
书籍多样性：8分
书籍信息完全性：5分
网站更新速度：8分
使用便利性：6分
书籍清晰度：7分
书籍格式兼容性：9分
是否包含广告：3分
加载速度：3分
安全性：3分
稳定性：3分
搜索功能：4分
下载便捷性：6分
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